Атомно-силовая микроскопия

    Атомный силовой микроскоп может использоваться для определения микрорельефа поверхности любых веществ, как проводящих, так и непроводящих. С его помощью можно наблюдать дефекты структуры, локализованные на изучаемых поверхностях, например, дислокации или заряженные дефекты, а также различные примеси. Кроме того, атомно-силовая микроскопия позволяет выявить границы различных блоков в кристалле, в частности доменов. В последнее время с помощью атомного силового микроскопа также интенсивно изучаются биологические объекты, например молекулы ДНК и другие макромолекулы и наноформирования на поверхности полупроводников и кристаллов.
    Наша лаборатория имеет возможность использовать в своих исследованиях два атомно-силовых микроскопа: AFM NT MDT и AFM Femtoscan, инновационного научно-образовательного центра коллективного пользования "Космические технологии и образование". Данные микроскопы позволяют производить исследования топографии поверхности в квадрате размером до 15мкм по каждому из направлений.